量子效率測試儀的使用方法與步驟
更新時間：2024-08-06 點擊次數(shù)：1699
量子效率測試儀可提供大面積的均勻光斑互動講，比傳統(tǒng)積分球提供更強的光強幅度，可以測量相機像素的量子效率以及整個芯片的相機參數(shù)。準直光學(xué)技術(shù)，提供半角1度的準直光去突破，可以進行變角度CRA和CROSSTALK測試改革創新。利用分光技術(shù)精準調控，測量的波長范圍更可擴展到190 nm-2600 nm總之。是一高性能的傳感器綜合測試系統(tǒng)。
量子效率測試儀使用方法與步驟：
(1)：將待測CCD芯片和標準探測器服務為一體，以及它們各自的驅(qū)動電路放置在暗室中方案，并調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關(guān)相互配合，使電流保證在8.4到8.6安統籌發展，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動位移臺的開關(guān)重要的角色。
(2)：通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門空間載體，調(diào)整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量體製。(一般調(diào)好不用管)要落實好。
(3)：調(diào)節(jié)移動位移臺，將標準件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)向好態勢。
(4)：記錄皮安表的數(shù)值相對簡便，查表，找出對應(yīng)波長的數(shù)值更默契了，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值特性，得出功率值。(正好皮安對皮瓦)流程。
(5)：蓋住CCD相機的鏡頭共創輝煌，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備等特點，連續(xù)采圖使用，設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長，功率值后不合理波動。再單擊量子效率建言直達，完成暗圖像的采集大幅拓展。
(6)：調(diào)節(jié)移動位移臺，將CCD工業(yè)相機調(diào)到激光光斑重合處新體系，(目前大約是回到原點)使命責任。
(7)：揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上搖籃，在設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長持續創新，功率值后，亮圖上打上對勾使用。再單擊量子效率性能，完成亮圖像的采集。
(8)：記錄量子效率的值長效機製。
(9)強化意識；在單色儀的上位軟件里，設(shè)定對應(yīng)波長深入，波長從400nm-780nm合理需求。設(shè)置起始波長為400nm，每隔20nm基本情況，重復(fù)(3)到(8)步驟測一次量子效率的值先進水平。直到780nm為止。
(10)：繪制量子效率的曲線充分發揮。
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