量子效率測試儀的使用方法與步驟
更新時間：2025-03-06 點擊次數(shù)：2361
量子效率測試儀可提供大面積的均勻光斑特點，比傳統(tǒng)積分球提供更強的光強等特點，可以測量相機像素的量子效率以及整個芯片的相機參數(shù)優勢領先。準直光學(xué)技術(shù)增多，提供半角1度的準直光，可以進行變角度CRA和CROSSTALK測試新品技。利用分光技術(shù)範圍，測量的波長范圍更可擴展到190 nm-2600 nm。是一高性能的傳感器綜合測試系統(tǒng)紮實做。
量子效率測試儀使用方法與步驟：
(1)：將待測CCD芯片和標準探測器空間廣闊，以及它們各自的驅(qū)動電路放置在暗室中至關重要，并調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關(guān)服務品質，使電流保證在8.4到8.6安的發生，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動位移臺的開關(guān)表現明顯更佳。
(2)：通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門狀態，調(diào)整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量技術節能。(一般調(diào)好不用管)指導。
(3)：調(diào)節(jié)移動位移臺，將標準件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)國際要求。
(4)：記錄皮安表的數(shù)值流動性，查表，找出對應(yīng)波長的數(shù)值競爭激烈，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值持續創新，得出功率值。(正好皮安對皮瓦)智慧與合力。
(5)：蓋住CCD相機的鏡頭喜愛，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備開放要求，連續(xù)采圖向好態勢，設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長，功率值后服務機製。再單擊量子效率貢獻力量，完成暗圖像的采集。
(6)：調(diào)節(jié)移動位移臺大幅拓展，將CCD工業(yè)相機調(diào)到激光光斑重合處發行速度，(目前大約是回到原點)。
(7)：揭開CCD的鏡頭與時俱進，讓激光光斑打到CCD上性能，在設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長，功率值后綜合運用，亮圖上打上對勾供給。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集效果較好。
(8)：記錄量子效率的值重要的意義。
(9)；在單色儀的上位軟件里等多個領域，設(shè)定對應(yīng)波長再獲，波長從400nm-780nm產品和服務。設(shè)置起始波長為400nm，每隔20nm體驗區，重復(fù)(3)到(8)步驟測一次量子效率的值增多。直到780nm為止。
(10)：繪制量子效率的曲線有望。
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