量子效率測試儀測試方法與步驟：

　』A。?）將待測CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測器信息，以及它們各自的驅(qū)動電路放置在暗室中，并調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)管理。打開光源的開關(guān)廣泛關註，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動位移臺的開關(guān)顯示。

　　（2）通過上位機(jī)程序控制待測CCD芯片電子快門大局，調(diào)整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量豐富內涵。（一般調(diào)好不用管）。

　⌒屎桶?。?）調(diào)節(jié)移動位移臺就能壓製，將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處（目前大約41500）。

　‘a能提升。?）記錄皮安表的數(shù)值發揮，查表，找出對應(yīng)波長的數(shù)值適應能力，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值設施，得出功率值節點。（正好皮安對皮瓦）

　　（5）蓋住CCD相機(jī)的鏡頭要求，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備，連續(xù)采圖適應性強，設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長的特性，功率值后。再單擊量子效率能力建設，完成暗圖像的采集高效。

　　（6）調(diào)節(jié)移動位移臺攜手共進，將CCD工業(yè)相機(jī)調(diào)到激光光斑重合處實力增強，（目前大約是回到原點）自然條件。

　U大公共數據。?）揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上體系流動性，在設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長設計標準，功率值后，亮圖上打上對勾助力各行。再單擊量子效率經過，完成亮圖像的采集。

　』踊パa。?）記錄量子效率測試儀的量子效率值核心技術體系。