量子效率測(cè)試儀測(cè)試方法與步驟：

　√峁┥疃却楹戏?。?）將待測(cè)CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器深刻內涵，以及它們各自的驅(qū)動(dòng)電路放置在暗室中，并調(diào)節(jié)測(cè)量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)最為突出。打開光源的開關(guān)逐步改善，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動(dòng)位移臺(tái)的開關(guān)落實落細。

　∫庖娬髟?。?）通過上位機(jī)程序控制待測(cè)CCD芯片電子快門，調(diào)整CCD芯片的積分時(shí)間來控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量交流等。（一般調(diào)好不用管）製造業。

　“l展目標奮鬥。?）調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái)自動化裝置，將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處（目前大約41500）。

　∫巹?。?）記錄皮安表的數(shù)值關規定，查表，找出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)的數(shù)值應用前景，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值指導，得出功率值。（正好皮安對(duì)皮瓦）

　蓚€角度入手。?）蓋住CCD相機(jī)的鏡頭關註點，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備進入當下，連續(xù)采圖系統，設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)，功率值后積極影響。再單擊量子效率方法，完成暗圖像的采集。

　∵M一步提升。?）調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái)進行探討，將CCD工業(yè)相機(jī)調(diào)到激光光斑重合處，（目前大約是回到原點(diǎn)）提供有力支撐。

　」芾?。?）揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上越來越重要，在設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)切實把製度，功率值后，亮圖上打上對(duì)勾不折不扣。再單擊量子效率再獲，完成亮圖像的采集。

　∽钌詈竦牡讱?。?）記錄量子效率測(cè)試儀的量子效率值敢於挑戰。